Характеристики
- Грузоподъёмность
- нет данных
- Вылет
- нет данных
- Повторяемость позиционирования
- нет данных
- Масса
- нет данных
- Степень защиты
- нет данных
Характеристики из источника
Строки приведены так, как их печатает производитель: без перевода, пересчёта и сравнения.
- Output impedances
- max. 500 Ω (with 8-36 V DC) for mA output
- Storage Temperature Range
- Sensing head: -40 °C … 120 °C
- Power Supply
- 8-30 V DC
- Protection Class
- IP 65, NEMA 4 (except terminal connector )
- Weight
- Sensing head: 40 g
- Size
- Sensing head: Ø12mm x 35 mm, M12x1
- Operating Temperature Range
- Sensing head: -20 °C … 120 °C
- Storage Temperature Range
- Electronics: -40 °C … 85 °C
- Repeatability
- ±0.75 % or ±0.75 °C **2)
- Weight
- Electronics: 420 g
- Direct output/input
- 0-20 mA/4-20 mA/0-5 V/0-10 V/t/c (K/J)
- Cable length
- 1 m (standard), 3 m, 8 m, 15 m
- Response Time
- 9 ms
- Output impedances
- min. 100 kΩ load impedance for mV output
- Output impedances
- thermocouple 20 Ω
- Part number
- OPTCTLT15F
- Spectral Range
- 8 – 14 µm
- Operating Temperature Range
- Electronics: 0 °C … 85 °C
- Interface
- USB / RS232 / RS485 / Profibus / Ethernet / Relay
- Thermal Sensitivity (NETD)
- 200 mK
- Size
- Electronics: 122 mm x 70 mm x 27 mm
- Distance to Spot ratio (D:S)
- 15:1
- Object Measurement Range
- -50°C … 975°C
- Power Consumption
- <50mW
- Temperature Coefficient
- ± 0.05 K/K or ± 0.05 % / K **3)
- Spot size (SF optics)
- 26.7 mm at 400mm
- Accuracy
- ± 1% or ± 2°C **2)
- Sampling Frequency
- 110 Hz
- Exposure Time
- 9 ms
Источники
- CTfast LT15
страница товара; от производителя; издатель: Optris GmbH & Co. KG; редакция: 2026-10-02
Где в источнике: Output impedances; Storage Temperature Range; Power Supply; Protection Class; Weight; Size; Operating Temperature Range; Repeatability; Direct output/input; Cable length; Response Time; Part number; Spectral Range; Interface; Thermal Sensitivity (NETD); Distance to Spot ratio (D:S); Object Measurement Range; Power Consumption; Temperature Coefficient; Spot size (SF optics); Accuracy; Sampling Frequency; Exposure Time