JENar APTAline 429-515...540-339 AL

Характеристики

Масса

1,5 кг

номинально

данные производителя

источник 1

Грузоподъёмность

нет данных

Вылет

нет данных

Повторяемость позиционирования

нет данных

Степень защиты

нет данных

Характеристики из источника

Строки приведены так, как их печатает производитель: без перевода, пересчёта и сравнения.

Input beam ⌀ 1/e

16 mm (Use only RoHS-compliant (Shanghai) Precision Instrument)

источник 1

Focal length

429 mm

источник 1

US, CN

±22.8 °

источник 1

Scan field Y 240 mm

±8.0 °

источник 1

mm length

429 mm

источник 1

Telecentricity (only F-Theta | with scanner)

12.4° | 12.4°

источник 1

Scan field ⌀

339 mm

источник 1

Back working distance

547.7 mm

источник 1

mm field X

240 mm

источник 1

Flange focus distance

629.5 mm

источник 1

Telecentricity Tolerierung Maße

12.4 °

источник 1

X/Y mirror angle

± 8°

источник 1

Scan field ( X x Y ); Ø

(240 mm x 240 mm); 339 mm

источник 1

Scan field X

240 mm

источник 1

Scan field Y

240 mm

источник 1

LIDT system pulsed; CW

1.25 J/cm² * (τ/[ns]) 0.35; 1.25 MW/cm²

источник 1

Input beam Ø 1/e²

16.0 mm

источник 1

Focus size Ø 1/e²

26.9 µm

источник 1

Telecentricity with scanner

12.4 °

источник 1

Datum/DATE Name/NAME

1.5 kg

источник 1

Input beam ⌀ 1/e

16 mm

источник 1

a1

17.00 mm

источник 1

Wavelength

515...540 nm

источник 1

LIDT coating pulsed; CW

1.25 J/cm² * (τ/[ns]) 0.35; 1.25 MW/cm²

источник 1

Diagonal scan angle

± 22.8°

источник 1

a2

32.51 mm

источник 1

Group delay dispersion (GDD)

3328 fs²

источник 1

results for customized parameters (e.g. wavelength,

629.5 mm

источник 1

Источники

1. JENar™ APTAline™ 429-515...540-339 AL

   технический лист; от производителя; издатель: Jenoptik; редакция: 2026-10-02

   Где в источнике: Weight; Input beam ⌀ 1/e; Focal length; US, CN; Scan field Y 240 mm; mm length; Telecentricity (only F-Theta | with scanner); Scan field ⌀; Back working distance; mm field X; Flange focus distance; Telecentricity Tolerierung Maße; X/Y mirror angle; Scan field ( X x Y ); Ø; Scan field X; Scan field Y; LIDT system pulsed; CW; Input beam Ø 1/e²; Focus size Ø 1/e²; Telecentricity with scanner; Datum/DATE Name/NAME; a1; Wavelength; LIDT coating pulsed; CW; Diagonal scan angle; a2; Group delay dispersion (GDD); results for customized parameters (e.g. wavelength,