Product Qualification Report

Характеристики

Грузоподъёмность

нет данных

Вылет

нет данных

Повторяемость позиционирования

нет данных

Масса

нет данных

Степень защиты

нет данных

Характеристики из источника

Строки приведены так, как их печатает производитель: без перевода, пересчёта и сравнения.

ESD (HBM). HBM

3 A (( 4000 V to < 8000 V ))

источник 1

High Temperature Storage Life HTSL Ta ≥ 150°C

500 h (1x45 0/45 PASS)

источник 2

JEDEC/ANSI/ESDA (JS-001)

1.000 V to < 2.000 V

источник 3

Electrical Parameter Assessment ED

-55 °C (- 3 x 25 0 / 75 PASS)

источник 4

High Humidity High Temperature Reverse Bias H3TRB* Ta = 85°C

1000 h (3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 5

High Temperature Operating Live HTOL Tj = 145°C

1000 h (3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 6

High Temperature Storage Life HTSL Ta = 175°C

500 h

источник 7

Highly Accelerated Temperature HAST* Ta = 130°C

96 h (3x25 0/75 PASS)

источник 8

High Temperature Operating Life HTOL Tj ≥ 150°C

500 h (3x77 0/231 PASS)

источник 9

High Temperature Operating Life HTOL Tj ≥ 150°C

500 h (2x77 0/154 PASS)

источник 10

Autoclave** AC* Ta=121°C

96 h

источник 11

Bias HTRB

1000 h (3 × 77 0 / 3 × 77 PASS)

источник 12

Pressure Cooker Test PCT* Ta = 121°C

168 h (2 x 77 0 / 154 PASS)

источник 13

Autoclave AC* Ta = 121°C

96 h (3x25 0/75 PASS)

источник 10

JESD22 A104

+150 °C

источник 14

High Humidity, High Temperature Bias H3TRB* Ta = 85 °C,

1000 h (4 x 60 0 / 240 PASS)

источник 4

AEC-Q101

150 °C

источник 4

Electrical Parameter Assessment ED

-55 °C (.. 1 x 30 0 / 30 PASS)

источник 15

Highly-Accelerated Stress

96 h (PASS)

источник 16

Or

96 h (3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 17

High Temperature Operating Life HTOL Ta = 85°C

1000 h (4x70 0/280 PASS)

источник 18

Electrical Distribution ED

-55 °C (, +25°C, 3 x 30 0 / 90 PASS)

источник 19

Highly-Accelerated Stress Test HAST* Ta = 130°C

96 h (3x77 0/231 PASS)

источник 20

Biased HAST HAST* Ta = 110 °C

264 h (3 x 77 0/231 PASS)

источник 21

High Humidity High Temperature Reverse H3TRB* Ta = 85°C

1000 h (3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 22

High Temperature Operating Life HTOL Ta = 150°C

500 h (1 x 77 0 / 77 PASS)

источник 23

High Voltage High Humidity HV-H3TRB

1.000 h (≥ 72 dies PASS)

источник 3

High Temperature Operating Life HTOL Tj ≥ 150°C

1000 h (3x77 0/231 PASS)

источник 2

Biased Highly Accelerated Stress HAST* Ta = 130°C

96 h (1 x 25 0 / 25 PASS)

источник 23

Power Temperature Cycle PTC

-40 °C (/ to 85°C 1000 cyc 1x77 0/77 PASS)

источник 20

High Temperature Storage Life HTSL Ta = 150°C

1000 h (3 / 77 0 / 231 PASS)

источник 24

ESD (HBM) HBM

0 A (1x3 0/3 PASS)

источник 25

Autoclave*** AC* Ta=121°C

96 h (2 x 77 0 / 154 PASS)

источник 26

High Temperature Storage Life HTSL Ta = 150°C

1000 h (3x25 0/75 PASS)

источник 27

Pressure Cooker Test PCT* Ta = 121°C

168 h (1 x 77 0 / 77 PASS)

источник 23

ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 HBM

2000V to < 4000 V

источник 27

ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 HBM

4000 V to < 8000 V

источник 28

High Temperature Operating Life HTOL Tj = 125°C + Bias

1000 h

источник 7

High Accekerated Stress Test HAST* Ta = 130°C

96 h (2x25 0/25 PASS)

источник 29

BGA5M1BN6

18 dB (High Gain Low Noise Amplifier for LTE Midband)

источник 30

Biased Highly Accelerated Stress Test HAST1 Ta = 130 °C

96 h (3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 31

High Temperature Storage Life HTSL Ta ≥ 150°C

1000 h (15 x 25 0 / 375 PASS)

источник 32

High Temperature Storage Life HTSL Ta ≥ 150°C

1000 h (1x45 0/45 PASS)

источник 29

Biased HAST HAST Ta = 130 °C

96 h (3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 14

Autoclave AC* Ta = 121°C

96 h (4x25 0/100 PASS)

источник 33

High Temperature Operating Life HTOL Ta = 125°C

1000 h (5 x 77 0 / 385 PASS)

источник 34

High Temperature Operating Life HTOL Ta = 85°C

1000 h (4x77 0/308 PASS)

источник 27

Biased Highly Accelerated Stress Test HAST* Ta = 130°C

96 h (15 x 25 0 / 375 PASS)

источник 32

High Temperature Storage Life HTSL

150 °C (1000 h 3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 6

Highly Accelerated Stress Test HAST* Ta = 130°C

48 h (3x25 0/75 PASS)

источник 2

High Temperature Reverse Bias HTRB Ta = 150°C/175°C

1000 h (3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 22

High Temperature Operating Life HTOL Ta=+125°C, VDD=3.6V

1000 h (3 x 77 0/231 PASS)

источник 35

High Temperature Operating Life HTOL Ta = 125°C

1000 h (3 / 77 0 / 231 PASS)

источник 36

Autoclave*** AC* Ta=121°C

96 h (3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 22

High Temperature HTGS

1.000 h (≥ 72 dies PASS)

источник 3

CDM

> 1000 V (- - - C3)

источник 12

High Temperature Operating Life HTOL Ta = 100°C

1000 h (4 x 77 0 / 308 PASS)

источник 37

High Temperature Operating Life HTOL Tj ≥ 150°C

500 h (4x77 0/308 PASS)

источник 38

Autoclave*** AC* Ta=121°C

48 h (3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 39

High Humidity, High Temperature Bias H3TRB* Ta = 85 °C

1000 h (3 x 25 0 / 75 PASS)

источник 40

High Humidity High Temperature Reverse Bias H3TRB* Ta = 85°C

1000 h (4 x 77 0 / 308 PASS)

источник 41

High Temperature Gate Bias HTGB Ta = 150°C/175°C

1000 h (3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 22

High Temperature Reverse Bias HTRB* Ta = 150°C

1000 h (2 x 77 0 / 154 PASS)

источник 26

High Temperature Operating Life HTOL Tj = 125 °C

1000 h (3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 14

High Temperature Reverse Bias HTRB Ta = 150°C/175°C

500 h (3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 42

High Temperature Operating Life HTOL Tj ≥ 150°C

500 h (2x80 0/160 PASS)

источник 33

ESD Charged Device Model ESD

1000 V (- - - PASS)

источник 10

JESD22 C101 CDM

500 to < 1000 V

источник 43

JESD22 C101 CDM

≥ 1000 V

источник 44

High Temperature Operating Life HTOL Tj = 150°C

1000 h (6 x 77 0 / 462 PASS)

источник 45

ANSI/ESDA/JEDEC Specification JS-001

2000V to <4000 V

источник 11

ESD (HBM) HBM

1 A (1x3 0/3 PASS)

источник 46

High Temperature Storage Life HTSL Ta ≥ 150°C

500 h (2x25 0/50 PASS)

источник 10

High Temperature Operating Life HTOL Ta ≥ 125°C

1000 h (3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 47

ANSI/ESDA/JEDEC Specification JS-002

≥1000 V

источник 11

AEC Q100-009

+150 °C

источник 19

High Temperature Operating Life HTOL Tj ≥ 150°C

500 h (3x80 0/240 PASS)

источник 29

JESD22 A114 HBM

500 V to < 1000 V

источник 9

Biased Highly Accelerated Stress HAST* Ta = 130°C

128 h (2 x 77 0 / 154 PASS)

источник 13

High Temperature Storage Life HTSL Ta ≥ 150°C

500 h (3x25 0/75 PASS)

источник 9

ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 HBM

1000 V to < 2000 V

источник 8

Temperature Cycling TC

-55°C to +150 °C (1000 cyc. 3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 22

ANSI/ESDA/JEDEC JS-002 CDM

500V to < 1000 V

источник 27

High Temperature Operating Life HTOL Tj = approx. 145 °C

1000 h (3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 31

Highly Accelerated Temperature and HAST* Ta = 130°C

96 h (1x25 0/25 PASS)

источник 48

High Temperature Operating Life HTOL Ta = 125°C

1000 h (15 x 77 0 / 1155 PASS)

источник 32

High Temperature Storage Life HTSL Ta = 175°C

1000 h (3x25 0/75 PASS)

источник 43

ESD (SLT) ESD

±15 kV (air 3/3 0/9 PASS)

источник 35

High Temperature Operating Life HTOL Ta = 85°C

1000 h (3x77 0/231 PASS)

источник 48

Electrical Parameter Assessment ED

-55 °C (- 3 x 10 0 / 30 PASS)

источник 40

ESD Human Body Model ESD

2000 V (- - - PASS)

источник 49

Highly Accelerated Temperature and HAST* Ta = 130°C

96 h (3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 50

High Temperature Storage Life HTSL Ta ≥ 150°C

1000 h (4x25 0/100 PASS)

источник 33

High Temperature Operating Life HTOL Ta = 125°C

1000 h (1 / 77 0 / 77 PASS)

источник 51

High Humidity High Temperature Reverse H3TRB* Ta = 85°C

500 h (3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 39

High Temperature Operating Life HTOL Ta = 105°C

1000 h (3x77 0/231 PASS)

источник 8

cycles

30 min (per cycle)

источник 35

High Humidity High Temperature Reverse Bias H3TRB* Ta = 85°C

1000 h (2 x 77 0 / 154 PASS)

источник 26

Vibration (Sine Sweep) VIB

5 h (each direction (x, y, z) ≥ 6 modules PASS)

источник 3

HBM

250 V to < 500 V (- - - 1A)

источник 12

Highly Accelerated Temperature and HAST* Ta = 130 °C

96 h (3 x 25 0 / 75 PASS)

источник 30

Highly Accelerated Stress Test HAST* Ta = 130°C

48 h (1x25 0/25 PASS)

источник 10

High Temperature Operating Life HTOL Ta = 150°C

500 h (1 x 120 0 / 120 PASS)

источник 13

AC

96 h (3 × 77 0 / 3 × 77 PASS)

источник 12

High Temperature Reverse Bias HTRB* Ta = 175°C

1000 h (4 x 77 0 / 308 PASS)

источник 41

Temperature Cycling TC

-55 °C (to 1000 cyc 3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 52

Non-Volatile Memory Tests

Data DR Programming, no: 1000 h (3 x 78 0 / 234 PASS)

источник 14

High Temperature Operating Life HTOL Ta = 125°C

1000 h (4 x 77 0 / 308 PASS)

источник 53

High Temperature Operating Life HTOL Ta = 100°C

1000 h (5 x 77 0 / 385 PASS)

источник 54

High Temperature Storage Life HTSL Ta = 150 °C

1000 h (3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 47

Highly Accelerated Stress Test HAST* Ta = 130°C

48 h (1x25 0/25 PASS3)

источник 55

High Temperature Storage Life HTSL Ta ≥ 150°C

1000 h (1x25 0/255 PASS)

источник 48

High Temperature Operating Life HTOL Ta = 110°C

1000 h (3x77 0/231 PASS)

источник 56

Biased Highly Accelerated Stress Test HAST* Ta = 130°C

96 h (6 x 77 0 / 462 PASS)

источник 57

Electrical Parameter Assessment ED

-40 °C (, 25 °C, 3 x 10 0 / 30 PASS)

источник 30

High Temperature Reverse Bias HTRB Ta = 150 °C

1000 h (4 x 60 0 / 240 PASS)

источник 58

High Temperature Operating Life HTOL Ta = 150°C

1000 h (4 x 77 0 / 308 PASS)

источник 59

HighTemperature Storage Life HTSL Ta=+125°C

1000 h (3 x 25 0/75 PASS)

источник 35

High Humidity Reverse Bias H3TRB* RH = 85 %

1000 h (3 × 77 0 / 3 × 77 PASS)

источник 12

ESD Charged Device Model ESD

500 V (- - - PASS)

источник 20

HTGS

1000 h (3 × 77 0 / 3 × 77 PASS)

источник 12

J-STD020 / JESD22 A113

260 °C

источник 17

JESD22 C101 CDM

500 V to < 750 V

источник 36

ESD (HBM) HBM

1 A (( 250 V to < 500 V ))

источник 7

High Temperature Storage Life HTSL* Ta = 150°C

1000 h (1 x 77 0 / 77 PASS)

источник 13

Biased Highly Accelerated Stress Test** HAST

96 h/264 h

источник 60

Early Life Failure Rate ELFR Tj = 150 °C

48 h (3 x 1000 0 / 3000 PASS)

источник 30

Autoclave AC* Ta = 121°C

96 h (4 x 77 0 / 308 PASS)

источник 53

Early Life Failure Rate ELFR Ta = 125 °C

48 h (3 x 1000 0 / 3000 PASS)

источник 61

Biased Highly Accelerated Stress Test HAST * Ta = 130°C

96 h (3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 7

High Temperature Operating Life HTOL Ta = 150°C

1000 h (6 x 77 0 / 462 PASS)

источник 57

Ta = 150°C

1000 h

источник 7

JESD22 A113

260 °C

источник 47

HighTemperature Storage Life HTSL Ta=+125°C

1000 h (3 x 32 0/96 PASS)

источник 62

High Temperature Operating Life HTOL Ta = 85°C

1000 h (1 / 77 0 / 77 PASS)

источник 63

JEDEC JS-001 HBM

1000 to < 2000 V

источник 43

ANSI/ESDA/JEDEC JS-002 CDM

500V to < 750 V

источник 48

High Temperature HTRB

1.000 h (≥ 72 dies PASS)

источник 3

Autoclave AC Ta = 121°C

96 h (5 x 77 0 / 385 PASS)

источник 54

High Temperature Operating Life HTOL Ta = 95°C

1000 h (3x77 0/231 PASS)

источник 64

Autoclave AC* Ta = 121 °C,

96 h (4 x 60 0 / 240 PASS)

источник 4

AEC-Q100-002 ( 2000 V to

< 4000 V ())

источник 24

ESD Human Body Model ESD

500 V (- - - PASS)

источник 10

Biased Highly Accelerated Stress Test HASTb Ta = 130 °C

96 h (3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 65

Biased Highly Accelerated Stress Test HAST** Ta = 130°C

96 h

источник 47

High Temperature Gate Bias HTGB Ta = 150°C/175°C

500 h (3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 42

High Temperature Operating Lifetime HTOL Ta = 150°C

1000 h (3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 24

High Temperature Reverse Bias HTRB Tj = 150 °C,

1000 h (4 x 60 0 / 240 PASS)

источник 4

JESD22 A114 HBM

2000 V to < 4000 V

источник 36

High Temperature Storage Life HTSL Ta = 175°C

1000 h (3 / 77 0 / 231 PASS)

источник 36

High Humidity H3TRB

1.000 h (≥ 72 dies PASS)

источник 3

JESD22 C101 CDM

500 V to < 1000 V

источник 56

High Accelerated Stress Test HAST* Ta = 130°C

1000 h (3 x 77 0 / 231 PASS)

источник 24

ESD (HBM) HBM

3 A (1x3 0/3 PASS)

источник 66

Источники

1. Product Qualification Report

   страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

   Где в источнике: ESD (HBM). HBM

2. Product Qualification Report

   страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

   Где в источнике: High Temperature Storage Life HTSL Ta ≥ 150°C; High Temperature Operating Life HTOL Tj ≥ 150°C; Highly Accelerated Stress Test HAST* Ta = 130°C

3. Product Qualification Report

   страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

   Где в источнике: JEDEC/ANSI/ESDA (JS-001); High Voltage High Humidity HV-H3TRB; High Temperature HTGS; Vibration (Sine Sweep) VIB; High Temperature HTRB; High Humidity H3TRB

4. Product Qualification Report

   страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

   Где в источнике: Electrical Parameter Assessment ED; High Humidity, High Temperature Bias H3TRB* Ta = 85 °C,; AEC-Q101; Autoclave AC* Ta = 121 °C,; High Temperature Reverse Bias HTRB Tj = 150 °C,

5. Product Qualification Report

   страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

   Где в источнике: High Humidity High Temperature Reverse Bias H3TRB* Ta = 85°C

6. Product Qualification Report

   страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

   Где в источнике: High Temperature Operating Live HTOL Tj = 145°C; High Temperature Storage Life HTSL

7. Product Qualification Report

   страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

   Где в источнике: High Temperature Storage Life HTSL Ta = 175°C***; High Temperature Operating Life HTOL Tj = 125°C + Bias**; ESD (HBM) HBM; Biased Highly Accelerated Stress Test HAST * Ta = 130°C; Ta = 150°C***

8. Product Qualification Report

   страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

   Где в источнике: Highly Accelerated Temperature HAST* Ta = 130°C; ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 HBM; High Temperature Operating Life HTOL Ta = 105°C

9. Product Qualification Report

   страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

   Где в источнике: High Temperature Operating Life HTOL Tj ≥ 150°C; JESD22 A114 HBM; High Temperature Storage Life HTSL Ta ≥ 150°C

10. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Temperature Operating Life HTOL Tj ≥ 150°C; Autoclave AC* Ta = 121°C; ESD Charged Device Model ESD; High Temperature Storage Life HTSL Ta ≥ 150°C; Highly Accelerated Stress Test HAST* Ta = 130°C; ESD Human Body Model ESD

11. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: Autoclave** AC* Ta=121°C; ANSI/ESDA/JEDEC Specification JS-001; ANSI/ESDA/JEDEC Specification JS-002

12. Product Qualification Report

    технический лист; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: Bias HTRB; CDM; HBM; AC*; High Humidity Reverse Bias H3TRB* RH = 85 %; HTGS

13. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: Pressure Cooker Test PCT* Ta = 121°C; Biased Highly Accelerated Stress HAST* Ta = 130°C; High Temperature Operating Life HTOL Ta = 150°C; High Temperature Storage Life HTSL* Ta = 150°C

14. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: JESD22 A104; Biased HAST HAST Ta = 130 °C; High Temperature Operating Life HTOL Tj = 125 °C; Non-Volatile Memory Tests: Data DR Programming, no

15. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: Electrical Parameter Assessment ED

16. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: Highly-Accelerated Stress

17. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: Or; J-STD020 / JESD22 A113

18. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Temperature Operating Life HTOL Ta = 85°C

19. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: Electrical Distribution ED; AEC Q100-009

20. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: Highly-Accelerated Stress Test HAST* Ta = 130°C; Power Temperature Cycle PTC; ESD Charged Device Model ESD

21. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: Biased HAST HAST* Ta = 110 °C

22. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Humidity High Temperature Reverse H3TRB* Ta = 85°C; High Temperature Reverse Bias HTRB Ta = 150°C/175°C **; Autoclave*** AC* Ta=121°C; High Temperature Gate Bias HTGB Ta = 150°C/175°C **; Temperature Cycling TC*

23. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Temperature Operating Life HTOL Ta = 150°C; Biased Highly Accelerated Stress HAST* Ta = 130°C; Pressure Cooker Test PCT* Ta = 121°C

24. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Temperature Storage Life HTSL Ta = 150°C; AEC-Q100-002 ( 2000 V to; High Temperature Operating Lifetime HTOL Ta = 150°C; High Accelerated Stress Test HAST* Ta = 130°C

25. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: ESD (HBM) HBM****

26. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: Autoclave*** AC* Ta=121°C; High Temperature Reverse Bias HTRB* Ta = 150°C **; High Humidity High Temperature Reverse Bias H3TRB* Ta = 85°C

27. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Temperature Storage Life HTSL Ta = 150°C; ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 HBM; High Temperature Operating Life HTOL Ta = 85°C; ANSI/ESDA/JEDEC JS-002 CDM

28. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 HBM

29. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Accekerated Stress Test HAST* Ta = 130°C; High Temperature Storage Life HTSL Ta ≥ 150°C; High Temperature Operating Life HTOL Tj ≥ 150°C

30. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: BGA5M1BN6; Highly Accelerated Temperature and HAST* Ta = 130 °C; Electrical Parameter Assessment ED; Early Life Failure Rate ELFR Tj = 150 °C

31. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: Biased Highly Accelerated Stress Test HAST1 Ta = 130 °C; High Temperature Operating Life HTOL Tj = approx. 145 °C

32. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Temperature Storage Life HTSL Ta ≥ 150°C; Biased Highly Accelerated Stress Test HAST* Ta = 130°C; High Temperature Operating Life HTOL Ta = 125°C

33. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: Autoclave AC* Ta = 121°C; High Temperature Operating Life HTOL Tj ≥ 150°C; High Temperature Storage Life HTSL Ta ≥ 150°C

34. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Temperature Operating Life HTOL Ta = 125°C

35. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Temperature Operating Life HTOL Ta=+125°C, VDD=3.6V; ESD (SLT) ESD-; cycles; HighTemperature Storage Life HTSL Ta=+125°C

36. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Temperature Operating Life HTOL Ta = 125°C; JESD22 C101 CDM; JESD22 A114 HBM; High Temperature Storage Life HTSL Ta = 175°C

37. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Temperature Operating Life HTOL Ta = 100°C

38. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Temperature Operating Life HTOL Tj ≥ 150°C

39. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: Autoclave*** AC* Ta=121°C; High Humidity High Temperature Reverse H3TRB* Ta = 85°C

40. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Humidity, High Temperature Bias H3TRB* Ta = 85 °C; Electrical Parameter Assessment ED

41. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Humidity High Temperature Reverse Bias H3TRB* Ta = 85°C; High Temperature Reverse Bias HTRB* Ta = 175°C **

42. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Temperature Reverse Bias HTRB Ta = 150°C/175°C**; High Temperature Gate Bias HTGB Ta = 150°C/175°C**

43. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: JESD22 C101 CDM; High Temperature Storage Life HTSL Ta = 175°C; JEDEC JS-001 HBM

44. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: JESD22 C101 CDM

45. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Temperature Operating Life HTOL Tj = 150°C

46. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: ESD (HBM) HBM****

47. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Temperature Operating Life HTOL Ta ≥ 125°C; High Temperature Storage Life HTSL Ta = 150 °C; JESD22 A113; Biased Highly Accelerated Stress Test HAST** Ta = 130°C

48. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: Highly Accelerated Temperature and HAST* Ta = 130°C; High Temperature Operating Life HTOL Ta = 85°C; High Temperature Storage Life HTSL Ta ≥ 150°C; ANSI/ESDA/JEDEC JS-002 CDM

49. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: ESD Human Body Model ESD

50. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: Highly Accelerated Temperature and HAST* Ta = 130°C

51. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Temperature Operating Life HTOL Ta = 125°C

52. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: Temperature Cycling TC*

53. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Temperature Operating Life HTOL Ta = 125°C; Autoclave AC* Ta = 121°C

54. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Temperature Operating Life HTOL Ta = 100°C; Autoclave AC Ta = 121°C

55. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: Highly Accelerated Stress Test HAST* Ta = 130°C

56. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Temperature Operating Life HTOL Ta = 110°C; JESD22 C101 CDM

57. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: Biased Highly Accelerated Stress Test HAST* Ta = 130°C; High Temperature Operating Life HTOL Ta = 150°C

58. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Temperature Reverse Bias HTRB Ta = 150 °C

59. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Temperature Operating Life HTOL Ta = 150°C

60. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: Biased Highly Accelerated Stress Test** HAST*

61. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: Early Life Failure Rate ELFR Ta = 125 °C

62. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: HighTemperature Storage Life HTSL Ta=+125°C

63. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Temperature Operating Life HTOL Ta = 85°C

64. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: High Temperature Operating Life HTOL Ta = 95°C

65. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: Biased Highly Accelerated Stress Test HASTb Ta = 130 °C

66. Product Qualification Report

    страница товара; от производителя; издатель: Infineon; редакция: 2026-10-03

    Где в источнике: ESD (HBM) HBM****